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10J金屬熱釋電能量探頭，帶35毫米孔徑與高損傷閾值漫射器PE50-UV-DIFH-C型熱電能量傳感器采用高損傷閾值漫射器，適用于聚焦光束。該傳感器擁有35毫米孔徑，可測(cè)量100微焦至10焦耳的能量范圍。其毫秒脈沖損傷閾值為95焦耳/平方厘米，支持*高10千Hz的重復(fù)頻率，覆蓋193至355納米的光譜范圍。高重復(fù)頻率金屬吸收器，光譜范圍190-2200納米脈沖能量測(cè)量范圍：100微焦至10焦高損傷閾值集中光束擴(kuò)散器*大脈沖寬度5毫秒重復(fù)頻率高達(dá)10,000Hz主要特點(diǎn)紫外優(yōu)化...

薄膜材料廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、柔性電子、光學(xué)涂層、傳感器等領(lǐng)域，而薄膜電阻的精確測(cè)量則是評(píng)估薄膜性能和質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。薄膜電阻測(cè)試儀作為一種高精度的測(cè)量設(shè)備，為薄膜材料的研發(fā)、生產(chǎn)和應(yīng)用提供了重要的技術(shù)支持。本文將探討薄膜電阻測(cè)試儀的關(guān)鍵技術(shù)及其在微電子和新材料領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。一、關(guān)鍵技術(shù)薄膜電阻測(cè)試儀的核心功能是精確測(cè)量薄膜材料的電阻值，這對(duì)于評(píng)估薄膜的電學(xué)性能和質(zhì)量至關(guān)重要。其關(guān)鍵技術(shù)主要包括以下幾個(gè)方面：(一)四探針測(cè)量技術(shù)四探針測(cè)量技術(shù)是薄膜電阻儀中常用的測(cè)量方法，能...

TRENDNetworksC995-OH光斬波器是一款基于微處理器的控制系統(tǒng)，采用直接數(shù)字合成技術(shù)（DDS），可提供4Hz至5000Hz的精確斬波頻率。C995-OH控制器配備大型五位LED讀數(shù)顯示，支持通過前面板數(shù)字輸入所需斬波頻率。此外，該設(shè)備配備雙向RS-232端口，用戶可通過端口以0.001Hz的分辨率設(shè)置目標(biāo)斬波頻率，并讀取儀器狀態(tài)。C995-OH采用鎖相環(huán)（PLL）控制系統(tǒng)，支持將斬波頻率與用戶提供的4Hz至5KHz外部時(shí)鐘同步，控制器可實(shí)時(shí)測(cè)量并顯示外部時(shí)鐘頻率...

J-50MUV-248WDIFFUSER能量計(jì)采用MaxUV涂層的EnergyMax傳感器專門針對(duì)193納米工作的ArF激光器和248納米工作的KrF激光器進(jìn)行了優(yōu)化。這些傳感器具有高精度和大有效區(qū)域（直徑達(dá)50毫米），并采用了一種名為MaxUV的獨(dú)特涂層，可提供ZHUO越的長(zhǎng)期損傷耐受性。J-50MUV-248w/Diffuser是一款專門針對(duì)248nm工作的激光器測(cè)試的能量計(jì)探頭。配備了深紫外石英擴(kuò)散器，以增強(qiáng)對(duì)涂層損傷的耐受性。J-50MUV-248withDiffus...

如何選擇OPHIR激光功能能量計(jì)探頭：首先我們需要知道被測(cè)激光的波長(zhǎng)、光斑大小、功率范圍、能量范圍、脈寬、重復(fù)頻率等參數(shù)，對(duì)比OPHIR品牌的激光功率能量計(jì)探頭進(jìn)行選型。那么針對(duì)測(cè)試連續(xù)250W內(nèi)功率的激光器，我們可以選擇哪款型號(hào)呢答案是：FL250A-BB-50FL250A-BB-50是一款中高功率、風(fēng)冷式、通用型熱傳感器，適用于廣泛的激光功率和能量測(cè)量。具有50mm孔徑。其功率測(cè)量范圍是150mW~250W，能量測(cè)量范圍是80mJ~300J。其具有頻譜平坦的寬帶涂層，頻譜...

DINEN16165:2023-0221EN16165:2021附錄C擺式摩擦測(cè)定儀用于測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的橡膠包裹的滑塊組件滑過測(cè)試表面時(shí)的能量損失。該測(cè)定儀包含一個(gè)裝有彈簧的滑塊，該滑塊由標(biāo)準(zhǔn)橡膠制成，并附著在擺臂的末端。當(dāng)擺動(dòng)擺臂時(shí)，滑塊與測(cè)試表面之間的摩擦力通過擺臂圓周運(yùn)動(dòng)的減少量來(lái)測(cè)量，該減少量在一個(gè)標(biāo)度尺上讀出。該測(cè)量方法可通過使用軟橡膠或硬橡膠（分別為滑塊57或96）來(lái)實(shí)施。該測(cè)量方法可在測(cè)試表面處于干燥狀態(tài)或測(cè)試表面被水濕潤(rùn)的狀態(tài)下實(shí)施。該測(cè)量方法既可用于實(shí)驗(yàn)室條件下的...